Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Для приобретения подписки для абонементного доступа к статьям, вам необходимо зарегистрироваться
После регистрации вы получите доступ к личному кабинету
Зарегистрироваться Войти
В статье обсуждаются вопросы аттестации и стандартизации методик измерений, связанные как с метрологическими требованиями, так и с трудно преодолеваемыми техническими проблемами. Также рассматриваются причины, почему в последнее десятилетие аттестовано сравнительно немного методик измерений и разработано мало стандартов на методики измерений в сфере наноиндустрии. Отмечается, что с 2017 г. в России начали принимать меры для улучшения метрологического обеспечения этой важной инновационной отрасли экономики.
Ключевые слова: методика измерений, аттестация, стандартизация, наноиндустрия, метрологическое обеспечение.
Автор: Т.Н. Березовская, инженер по качеству, ФГБУ высшего образования и науки «Санкт-Петербургский национальный исследовательский Академический университет им. Ж.И. Алферова Российской академии наук» (СПбАУ РАН им. Ж.И. Алферова)
Мир измерений № 1-2020