Аттестация и стандартизация методик измерений в сфере наноиндустрии

350,00 руб.
В корзину

Описание

В статье обсуждаются вопросы аттестации и стандартизации методик измерений, связанные как с метрологическими требованиями, так и с трудно преодолеваемыми техническими проблемами. Также рассматриваются причины, почему в последнее десятилетие аттестовано сравнительно немного методик измерений и разработано мало стандартов на методики измерений в сфере наноиндустрии. Отмечается, что с 2017 г. в России начали принимать меры для улучшения метрологического обеспечения этой важной инновационной отрасли экономики.

Ключевые слова: методика измерений, аттестация, стандартизация, наноиндустрия, метрологическое обеспечение.

 Автор: Т.Н. Березовская, инженер по качеству, ФГБУ высшего образования и науки «Санкт-Петербургский национальный исследовательский Академический университет им. Ж.И. Алферова Российской академии наук» (СПбАУ РАН им. Ж.И. Алферова)

Мир измерений № 1-2020