Заказать мероприятие
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Для приобретения подписки для абонементного доступа к статьям, вам необходимо зарегистрироваться
После регистрации вы получите доступ к личному кабинету
Зарегистрироваться Войти
В статье описан опыт аттестации методики измерений для наноиндустрии с иллюстрацией на конкретном примере способов обеспечения соответствия критериям аттестации и метрологическим требованиям к измерениям. Подробно обсуждается проведение метрологического эксперимента по оценке характеристик погрешности методики измерений, а также оформление программы и результатов этого метрологического исследования. Предлагаются практические советы по взаимодействию с аккредитованной организацией, аттестующей методику измерений, способствующие взаимопониманию в диалоге с экспертом и ускорению процесса аттестации.
Ключевые слова: методика измерений, аттестация, наноиндустрия, метрологический эксперимент, показатели точности.
Автор: Т.Н. Березовская, инженер по качеству, ФГБУ высшего образования и науки «Санкт-Петербургский национальный исследовательский Академический университет им. Ж.И. Алферова Российской академии наук» (СПбАУ РАН им. Ж.И. Алферова)
Мир измерений № 3-2020
Подписка
Всероссийская организация качества
