Заказать мероприятие

Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.

Войти в систему

Забыли пароль?

Зарегистрироваться

Войти через социальные сети:

Войти как пользователь
Вы можете войти на сайт, если вы зарегистрированы на одном из этих сервисов:

Спасибо! Ваше сообщение отправлено!

Подать заявку

Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.

Абонементный доступ

Для приобретения подписки для абонементного доступа к статьям, вам необходимо зарегистрироваться

После регистрации вы получите доступ к личному кабинету

Зарегистрироваться Войти

Выбор статьи

Вы уверены, что хотите получить доступ к статье:
"" ?

Обратная связь

Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.

Заявка на рассмотрение рукописи

Для размещения в журнале:

Удалить
Удалить
Удалить
Удалить
Удалить

Я подтверждаю свое согласие с «Редакционной политикой ООО «РИА «Стандарты и качество»», выражаю безоговорочное согласие со всеми условиями Договора-Оферты без каких-либо изъятий или ограничений, принимаю Политику в отношении обработки персональных данных и даю согласие на получение информации от ria-stk.ru.
Расширенный поиск
Подписка
Стать автором
+7 (495) 771 6652
editor_site@mirq.ru
Обратная связь
+7 (495) 771 6652
editor_site@mirq.ru
Подписка
Стать автором
Обратная связь

Облако тегов:

безотказность коэффициент качества производства коэффициент качества технологического процесса надежность онтология опросник экспертная оценка.

Методика оценки качества технологического процесса электроники

Тип доступа:

В корзину

Описание

Авторы формулируют проблему. прогнозная оценка показателей надежности электронных модулей (ЭМ) отличается на несколько по­рядков от фактических значений. В качестве решения предлагается методика, которая в технологическом про­цессе создания ЭМ позволит предприятиям сократить затраты на дополнительные испытания, анализ причин неисправностей, вынужденную доработку объекта раз­работки вследствие полного обеспечения целевых по­казателей надежности посредством своевременного контроля качества проведения необходимых мероприятий.

Ключевые слова: надежность, безотказность, онтология, опросник, коэффициент качества производства, коэффициент качества технологического процесса, экспертная оценка.

Авторы:

Павел Сергеевич КОРОЛЕВ — кандидат технических наук, доцент, Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики»;

Сергей Николаевич ПОЛЕССКИЙ — кандидат технических наук, доцент, Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики»;

Вячеслав Эдуардович ЦВЕТКОВ — аспирант, Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики»;

Гарик Андраникович МКРТЧЯН — бакалавр, Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики»

«Стандарты и качество» № 6/2025