Архив номеров

Аттестация и стандартизация методик измерений в сфере наноиндустрии

В статье обсуждаются вопросы аттестации и стандартизации методик измерений, связанные как с метрологическими требованиями, так и с трудно преодолеваемыми техническими проблемами. Также рассматриваются причины, почему в последнее десятилетие аттестовано сравнительно немного методик измерений и разработано мало стандартов на методики измерений в сфере наноиндустрии. Отмечается, что с 2017 г. в России начали принимать меры для улучшения метрологического обеспечения этой важной инновационной отрасли экономики.

«Мир измерений» Март 2020

Рубрика: Нанометрология
Автор(ы): Т. Березовская.

Полная версия статьи доступна подписчикам электронного журнала.

01.03.2020

448
Поделиться:

Подписка

Материалы по данной теме можно СКАЧАТЬ в Электронной Библиотеке >>>



Доступна мобильная версия журнала "Мир измерений"

Журнал Мир измерений в App Store Журнал Мир измерений на Google play