Архив номеров

Опыт аттестации методики измерений для наноиндустрии26

В статье рассказывается об опыте аттестации «Методики измерения средней толщины слоев арсенида галлия в полупроводниковых материалах методом фотолюминесценции», свидетельство об аттестации № 01.00225/206–01–2012 от 25.07.2012 г., выданное ВНИИМС, регистрационный номер в реестре аттестованных методик ФР.1.27.2012.12687. Методика разрабатывалась в технологических целях для калибровки и контроля скорости роста слоев арсенида галлия, изготавливаемых методом молекулярно-пучковой эпитаксии.

«Мир измерений» Сентябрь 2020

Рубрика: Единство измерений
Автор(ы): Т. Березовская.

Полная версия статьи доступна подписчикам электронного журнала.

01.09.2020

448
Поделиться:

Подписка

Материалы по данной теме можно СКАЧАТЬ в Электронной Библиотеке >>>



Доступна мобильная версия журнала "Мир измерений"

Журнал Мир измерений в App Store Журнал Мир измерений на Google play