Заказать мероприятие
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Для приобретения подписки для абонементного доступа к статьям, вам необходимо зарегистрироваться
После регистрации вы получите доступ к личному кабинету
Зарегистрироваться Войти
В Москве состоялась первая профильная конференция «Метрология – основа качества», организованная компанией «РТ-Техприемка» Государственной корпорации «Ростех» при информационной поддержке журнала «Мир измерений». В течение двух дней участники обсуждали ключевые аспекты обеспечения единства измерений и повышения достоверности их результатов, новые возможности для совместных проектов, кадровое развитие отрасли и внедрение цифровых решений. На конференции выступили представители федеральных органов исполнительной власти, предприятий промышленности, авторитетных научных организаций и вузов.
448
Подписка
Всероссийская организация качества
