Стать автором
Обратная связь
Архив номеров

Технологические вызовы прикладной метрологии

«Мир измерений» Март 2026

Рубрика: Слово предоставляется
Автор(ы): А.С. Кривов


Анатолий Сергеевич Кривов,
доктор технических наук, профессор, председатель Межотраслевого совета РСПП по прикладной метрологии и приборостроению, заместитель генерального директора АО «НПФ «Диполь», заслуженный метролог Российской Федерации


Мы привыкли к тому, что, когда рассматриваются направления развития метрологии, звучат слова о ее влиянии на качество выпускаемой продукции, эффективность производства, экономию ресурсов, надежность и безопасность техники, здоровье людей. Для выполнения своей миссии метрологи должны непрерывно совершенствовать эталоны единиц величин, методы и средства измерений, процессы подтверждения их соответствия, обеспечивать импортонезависимость своей деятельности.

При этом почти не уделяется внимания тому факту, что измерительные и метрологические процедуры все чаще становятся неотъемлемой частью современных технологических процессов на предприятиях промышленности, транспорта и связи, одними из функций сложных технических систем и комплексов. Интегрирование измерительных и контрольных операций в технические системы мониторинга и управления, в технологические процессы («переделы продукции») происходит на всех уровнях разукрупнения объектов от компонентов до составных частей как на программном, так и аппаратном уровне. Развитие новых технологий, связанное с применением и контролем новых материалов и процессов, информационных технологий и искусственного интеллекта, усиливает эту особенность современной техники и делает ее серьезным препятствием для применения классических норм и правил метрологии.

Практически все современные технические и технологические системы являются устройствами со встроенными измерительными элементами и функциями, для которых традиционные формы регулирования, такие как поверка, аттестация методик, неприменимы или неэффективны. В то же время калибровка технических средств с учетом многочисленных влияющих факторов, применение контрольных образцов в качестве эталонных мер параметров продукции, моделирование перестраиваемых программно-управляемых измерительно-контрольных и измерительно-управляющих процессов и построение многопараметрических установок и стендов развиваются недостаточно.

Реализация указанных видов работ соответствует современным технологическим вызовам и составит основной вектор развития прикладной метрологии. Принимая во внимание, что развитие новых измерительных технологий также касается сферы государственного регулирования, можно ожидать, что указанные тенденции будут актуальны для следующего этапа реформирования нормативного и правового регулирования всей метрологической деятельности.


01.03.2026

448
Поделиться:

Подписка

Материалы по данной теме можно СКАЧАТЬ в Электронной Библиотеке >>>