Архив номеров

Модернизация микроинтерферометров МИИ-4 и МИИ-4М

Создание экономически эффективного высокоразрешающего профилометра для технологий микрообработки поверхностей и формирования тонкопленочных покрытий является важной задачей метрологического обеспечения малых научно-производственных компаний, научных лабораторий, университетов и средних специальных учебных заведений. В статье обсуждаются результаты модернизации микроинтерферометров МИИ-4 и МИИ-4М, позволяющие получать профилограммы и геометрические характеристики микрорельефа путем компьютерной обработки интерферограмм.

Полная версия статьи доступна подписчикам электронного журнала. Подписаться >>>

01.10.2012

448
Поделиться:

Полная версия статьи доступна подписчикам журнала "Мир измерений".

Подписаться

Материалы по данной теме можно СКАЧАТЬ в Электронной Библиотеке >>>


Cannot find 'template1' template with page ''

Доступна мобильная версия журнала "Мир измерений"

Журнал Мир измерений в App Store Журнал Мир измерений на Google play


Открытые статьи:

Измерения качества жилищно-коммунальных услуг
Температурный мониторинг удалённых объектов по GSM-каналу
Главные социальные проблемы России последнего десятилетия
Новый измерительный инструмент?
О потерях в Великой Отечественной войне
Неразрушающий контроль паяных соединений в радиоэлектронной аппаратуре
Военное применение лазерных технологий
Обеспечение качества продовольственных товаров
Государственный первичный эталон единицы массы ГЭТ 3-200842
Автономный прибор для экспресс-контроля пассажирских лифтов в жилых и административных зданиях
Рождение нефтяной отрасли в России
Красота спасет мир... науки




СТАНЬТЕ ПОДПИСЧИКОМ НАШЕГО ЖУРНАЛА!