Заказать мероприятие
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Для приобретения подписки для абонементного доступа к статьям, вам необходимо зарегистрироваться
После регистрации вы получите доступ к личному кабинету
Зарегистрироваться Войти
Автор рассматривает возможности определения вероятностных характеристик случайных погрешностей с помощью метрологических испытаний без применения эталонов. Исследуется достоверность получаемых результатов, и предлагаются процедуры принятия решения о соответствии (несоответствии) испытуемых средств требованиям.
Ключевые слова: погрешность, метрологические испытания, эталон, достоверность результатов, метрологические характеристики.
Автор: Цветков Э.И, доктор технических наук, профессор кафедры информационных измерительных систем и технологий Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет
Мир измерений № 4-2016
Подписка
Всероссийская организация качества
