Заказать мероприятие
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Для приобретения подписки для абонементного доступа к статьям, вам необходимо зарегистрироваться
После регистрации вы получите доступ к личному кабинету
Зарегистрироваться Войти
Специфические особенности нанотехнологий предопределили возникновение и быстрое развитие уникального направления метрологии – нанометрологии, изучающей теоретические и практические аспекты обеспечения правильности измерений в сфере нанотехнологий. Автор статьи – генеральный директор НИЦПВ – рассматривает задачи нанометрологии: создание эталонов единиц величин, стандартных образцов состава, воспроизводство нужных шкал измерений, обеспечение прослеживаемости каждого конкретного результата измерений к эталону соответствующей величины
Ключевые слова: нанотехнологии; нанометрология; стандартизация; калибровка; мера; стандартный образец состава; растровый электронный микроскоп; атомно-силовой микроскоп
Автор: Павел Андреевич Тодуа
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума, Москва
Подписка
Всероссийская организация качества
