Заказать мероприятие
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Для приобретения подписки для абонементного доступа к статьям, вам необходимо зарегистрироваться
После регистрации вы получите доступ к личному кабинету
Зарегистрироваться Войти
Для того чтобы проанализировать пригодность системы измерений для мониторинга некоторого процесса, необходимо рассмотреть вариабельность системы измерений не самой по себе, а применительно к измеряемым объектам. В статье приведены примеры такого анализа.
Ключевые слова: измерение, точность, прецизионность, ГОСТ Р ИСО серии 5725, вариабельность, статистическое мышление, карты Шухарта, диагностика
Авторы: Юрий Павлович Адлер
канд. техн. наук, профессор Московского института стали и сплавов, действительный член Академии проблем качества, член ASQ и ENBIS, член Международной гильдии профессионалов качества
Владимир Львович Шпер
канд. техн. наук, начальник сектора качества и надежности Всероссийского электротехнического института, действительный член Академии проблем качества, член ASQ и ENBIS, член Международной гильдии профессионалов качества
Подписка
Всероссийская организация качества
