Заказать мероприятие
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Для приобретения подписки для абонементного доступа к статьям, вам необходимо зарегистрироваться
После регистрации вы получите доступ к личному кабинету
Зарегистрироваться Войти
На основе общей характеристики состава и особенностей функционирования современной автоматической измерительной техники рассмотрены типовые структуры априорных и дополнительных знаний, обеспечивающих возможность повышения точности измерений посредством оптимизации характеристик, коррекции систематических и стабильных погрешностей, подавления аддитивных помех и адаптации, включая алгоритмическую.
Ключевые слова: процессорные измерительные средства; измерительные процедуры; точность измерений; математическое обеспечение; измерительный ресурс; априорные знания; дополнительные знания; алгоритмические методы повышения точности измерений; погрешность
Автор:
Эрик Иванович Цветков
Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет, Санкт-Петербург
Подписка
Всероссийская организация качества
