Заказать мероприятие
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Для приобретения подписки для абонементного доступа к статьям, вам необходимо зарегистрироваться
После регистрации вы получите доступ к личному кабинету
Зарегистрироваться Войти
Представлен метод анализа наноструктур поверхности веществ. Информация о наноструктуре поверхности содержится в форме отражённых сверхкоротких лазерных импульсов. Рассматриваются возможности получения такой информации.
Ключевые слова: наноструктуры поверхности; отражение сверхкоротких импульсов; форма эхо-сигнала; наношкала
Авторы:
Могильницкий Бронислав Сергеевич, Шувалов Геннадий Владимирович
СНИИМ, г. Новосибирск
Подписка
Всероссийская организация качества
