Заказать мероприятие
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Для приобретения подписки для абонементного доступа к статьям, вам необходимо зарегистрироваться
После регистрации вы получите доступ к личному кабинету
Зарегистрироваться Войти
Рассматриваются возможности метрологического анализа на основе имитационного моделирования, определяемые современным математическим и техническим обеспечением, объемом и составом используемых априорных знаний. Сформированы рекомендации по включению процедур метрологического анализа на основе имитационного моделирования в состав действующей системы верификации средств и результатов измерений (обеспечения единства измерений).
Ключевые слова: метрологический анализ; метрологический эксперимент; эталон; верификация СИ; СКО; априорные знания; комбинированный метод определения МХ; измерительно-вычислительная система; имитационное моделирование; виртуальные СИ; метрологический синтез; квантование
Автор: Эрик Иванович Цветков
Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет, Санкт-Петербург
Подписка
Всероссийская организация качества
