Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Для приобретения подписки для абонементного доступа к статьям, вам необходимо зарегистрироваться
После регистрации вы получите доступ к личному кабинету
Зарегистрироваться Войти
В предыдущей статье данного цикла были рассмотрены начальные шаги анализа любых проблем: визуализация текущего состояния изучаемого процесса, анализ однородности данных и проверка наличия в них аномальных значений — выбросов. Практически одновременно (в декабре 2020-го и январе 2021 г.) ведущий мировой эксперт в области SPC Дональд Уилер опубликовал две статьи, посвященные анализу выбросов. Наряду с этим автор цикла был вынужден вернуться к вопросу применения контрольных карт Шухарта (ККШ) в метрологии. В силу всех этих обстоятельств стало понятно, что материал второй статьи должен быть заметно дополнен и расширен.
Ключевые слова: однородность данных, контрольная карта x-mR, выбросы, «ящик-с-усами».
Объем статьи: 7 полос
Автор:
Шпер В.Л.
канд. техн. наук, действительный член (академик) Академии проблем качества, член ASQ, ASA и ENBIS.