Стать автором
Обратная связь

ВНИИМ им. Д.И. Менделеева создает метрологическую платформу для искусственного интеллекта

ВНИИМ им. Д.И. Менделеева принял участие в первом заседании рабочей группы по вопросам стандартизации в области применения технологий искусственного интеллекта в промышленности Технического комитета № 164 «Искусственный интеллект». Институт представили директор НТЦ «Окружающая среда» ФГУП «ВНИИМ им. Д. И. Менделеева» Роман Родин и руководитель проблемной лаборатории метрологического обеспечения компьютеризированных датчиков Роальд Тайманов.

В числе вопросов были рассмотрены организационные и технические аспекты по реализации проекта перспективной программы стандартизации в области внедрения и использования технологий искусственного интеллекта в промышленности на 2024–2030 гг. Также участники встречи обсудили разработку дорожной карты стандартизации технологий искусственного интеллекта в промышленности.

Как отметил генеральный директор ВНИИМ Антон Пронин, в настоящее время в промышленности широко внедряются цифровые технологии и платформенные решения, в связи с чем возникают новые задачи, связанные с экспоненциальным нарастанием количества датчиков в промышленной среде, насыщенной различными информационными и управляющими системами. Решить данные задачи возможно с применением искусственного интеллекта в технических комплексах разнообразного назначения. Для этого надо разрабатывать и стандартизировать новые методы и средства измерения с искусственным интеллектом, предназначенные для метрологического обслуживания цифровой промышленности.


Источник: ВНИИМ им. Д.И Менделеева

24.04.2024
448
Поделиться: