Заказать мероприятие
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Отправляя данные, я подтверждаю, что ознакомилась/ознакомился с Политикой в отношении обработки персональных данных, принимаю её условия и предоставляю ООО «РИА «Стандарты и качество» Согласие на обработку персональных данных.
Для приобретения подписки для абонементного доступа к статьям, вам необходимо зарегистрироваться
После регистрации вы получите доступ к личному кабинету
Зарегистрироваться Войти
Читайте и узнаете:
о причинах проблем с получением достоверных результатов измерений и качеством сертификационных работ в области изделий электронной компонентной базы электронной промышленности; на чем основан порядок разработки новых СО и МВИ для отрасли; что разработанных СО для микроэлектронной и электронной промышленностей в России практически не существует.
Ключевые слова: аккредитация, испытания, методика выполнения измерений, стандартный образец организации, интеллектуальная собственность
Авторы:
Н.С. Козлова, старший научный сотрудник, заместитель заведующего, ведущий эксперт лаборатории «Монокристаллы и заготовки на их основе» Национального исследовательского технологического университета «МИСиС», канд. физ.-мат. наук
Е.В. Забелина, научный сотрудник кафедры материаловедения полупроводниковых материалов и диэлектриков лаборатории физики оксидных сегнетоэлектриков НИТУ «МИСиС», доцент, канд. физ.-мат. наук
«Контроль качества продукции» № 01/2023
Подписка
Всероссийская организация качества
