Стать автором
Обратная связь

Кристаллические материалы для электронной промышленности и качество их измерений. Опыт испытательной лаборатории

Тип доступа:

В корзину

Описание

Читайте и узнаете:
что входит в состав экспериментально-метрологического комплекса для проведения испытаний характеристик оптических монокристаллических материалов и заготовок для изделий электронной и микроэлектронной промышленности и контроля, обеспечивающего достоверность и точность измеряемых параметров; могут ли лаборатории работать по самостоятельно разработанным метрологическим комплексам; как можно защитить свою интеллектуальную собственность на методики выполнения измерений и стандартные образцы предприятия.

Ключевые слова: аккредитация, испытания, методика выполнения измерений, стандартный образец организации, интеллектуальная собственность

Авторы:

Н.С. Козлова, старший научный сотрудник, заместитель заведующего, ведущий эксперт лаборатории «Монокристаллы и заготовки на их основе» Национального исследовательского технологического университета «МИСиС», канд. физ.-мат. наук

Е.В. Забелина, научный сотрудник кафедры материаловедения полупроводниковых материалов и диэлектриков лаборатории физики оксидных сегнетоэлектриков НИТУ «МИСиС», доцент, канд. физ.-мат. наук

«Контроль качества продукции» № 02/2023